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          三種常用鍍層測厚儀的比較

          2015/9/30 9:48:50      點擊:

          1.       電解測厚儀廣泛用于電鍍層厚度測量的場合

             

             優(yōu)點:不受基材材質(zhì)的限制,可為金屬、非金屬、釹鐵硼等

             基本不受尺寸大小的限制,通常配備不同的測試頭即可解決,

             可測極細的線材,如直徑0.1mm 線材

             可測多層鎳電位差

             可測多鍍層,如塑膠上鍍銅再鍍鎳最后鍍鉻

             價位低,經(jīng)濟實惠,常規(guī)機型不會超過1 萬元

              

             缺點:破壞性測量,工件表面會腐蝕直徑 2.4mm 的小點

              

              

             2. 磁性測厚儀只能勝任部分鋼鐵基材上鍍層厚度的測量:在鍍層測量應用中,通常用來測

             鍍鋅層及硬鉻層的厚度

              

             優(yōu)點:無損、快速

             價位低、經(jīng)濟實惠

              

             缺點:只能測大工件,鍍層厚度小于 10um,測試很不穩(wěn)定

             實際上測硬鉻還可以,測其他鍍層已無實際意義

             只能測單鍍層

              

              

             3. X-Ray 熒光測厚儀能完成各種鍍層的測量

              

             優(yōu)點:無損、快速

              

             缺點:不能測細小的線材上鍍層厚度

             不能測多層鎳電位差

             厚度大于 30um 鍍層測不了

             價位高,國產(chǎn)也得 10 來萬


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